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RG2012P-301-B-T1

RG2012P-301-B-T1

참조 용

부품 번호 RG2012P-301-B-T1
PNEDA 부품 번호 RG2012P-301-B-T1
설명 RES SMD 300 OHM 0.1% 1/8W 0805
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
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창고 Shipped from Hong Kong SAR
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RG2012P-301-B-T1 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RG2012P-301-B-T1
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RG2012P-301-B-T1 사양

제조업체Susumu
시리즈RG
저항300 Ohms
공차±0.1%
전력 (와트)0.125W, 1/8W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0805
크기 / 치수0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

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공차

±0.5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

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TE Connectivity Passive Product

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저항

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전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

1.8 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

RT

저항

510 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.014" (0.35mm)

종료 횟수

2

실패율

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