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RCL12253R09FKEG

RCL12253R09FKEG

참조 용

부품 번호 RCL12253R09FKEG
PNEDA 부품 번호 RCL12253R09FKEG
설명 RES SMD 3.09 OHM 2W 2512 WIDE
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 5,166
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 7월 7 - 7월 12 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RCL12253R09FKEG 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RCL12253R09FKEG
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RCL12253R09FKEG, RCL12253R09FKEG 데이터 시트 (총 페이지: 9, 크기: 135.17 KB)
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RCL12253R09FKEG 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈RCL
저항3.09 Ohms
공차±1%
전력 (와트)2W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스Wide 2512 (6432 Metric), 1225
공급자 장치 패키지1225
크기 / 치수0.126" L x 0.248" W (3.20mm x 6.30mm)
높이-착석 (최대)0.032" (0.80mm)
종료 횟수2
실패율-

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전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

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온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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저항

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공차

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전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.033" W (1.60mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

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종료 횟수

2

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시리즈

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공차

±5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

5.6 Ohms

공차

±5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

-100/ +600ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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시리즈

RC

저항

220 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

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