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M55342E11B1B37RWI

M55342E11B1B37RWI

참조 용

부품 번호 M55342E11B1B37RWI
PNEDA 부품 번호 M55342E11B1B37RWI
설명 RES SMD 1.37KOHM 0.1% 1/20W 0402
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 3,798
창고 Shipped from Hong Kong SAR
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M55342E11B1B37RWI 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호M55342E11B1B37RWI
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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M55342E11B1B37RWI 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈Military, MIL-PRF-55342, RM0402
저항1.37 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.05W, 1/20W
구성Thin Film
특징Military, Non-Inductive
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.040" L x 0.025" W (1.02mm x 0.64mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.84mm)
종료 횟수2
실패율R (0.01%)

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Vishay Dale

시리즈

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저항

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공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

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구성

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특징

Military, Non-Inductive

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 150°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0705

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.033" (0.84mm)

종료 횟수

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실패율

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공차

±1%

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구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERJ-3EKF4532V

Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

45.3 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

PAT0603E5620BST1

Vishay Thin Film

제조업체

Vishay Thin Film

시리즈

PAT

저항

562 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.15W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.064" L x 0.032" W (1.63mm x 0.81mm)

높이-착석 (최대)

0.018" (0.46mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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