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CRCW040242R2FKEDC

CRCW040242R2FKEDC

참조 용

부품 번호 CRCW040242R2FKEDC
PNEDA 부품 번호 CRCW040242R2FKEDC
설명 RES 42.2 OHM 1% 1/16W 0402
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
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창고 Shipped from Hong Kong SAR
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CRCW040242R2FKEDC 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CRCW040242R2FKEDC
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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CRCW040242R2FKEDC 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈CRCW-C
저항42.2 Ohms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.014" (0.35mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Yageo

시리즈

PE

저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Metal Foil

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.030" W (1.60mm x 0.76mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

MCR03EZPJ184

Rohm Semiconductor

제조업체

Rohm Semiconductor

시리즈

MCR

저항

180 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW12066K98BEEA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW e3

저항

6.98 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.4W, 2/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

MMP

저항

100 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

2W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0309

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.126" Dia x 0.335" L (3.20mm x 8.50mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

CPF0402B1K05E

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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