SN74LVTH182652APM
참조 용
부품 번호 | SN74LVTH182652APM | ||||||||||||||||||
PNEDA 부품 번호 | SN74LVTH182652APM | ||||||||||||||||||
설명 | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | ||||||||||||||||||
제조업체 | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
단가 |
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재고 있음 | 2,504 | ||||||||||||||||||
창고 | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
예상 배송 | 11월 3 - 11월 8 (신속 배송 선택) | ||||||||||||||||||
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SN74LVTH182652APM 리소스
브랜드 | Texas Instruments |
ECAD Module | |
Mfr. 부품 번호 | SN74LVTH182652APM |
분류 | 반도체 › 로직 IC › 논리-특수 논리 |
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SN74LVTH182652APM 사양
제조업체 | |
시리즈 | 74LVTH |
논리 유형 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
공급 전압 | 2.7V ~ 3.6V |
비트 수 | 18 |
작동 온도 | -40°C ~ 85°C |
장착 유형 | Surface Mount |
패키지 / 케이스 | 64-LQFP |
공급자 장치 패키지 | 64-LQFP (10x10) |
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